無錫超聲波探傷儀的缺陷是怎么測定的？

1、在檢測過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷:

a) 缺陷次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%，即F1≥50%。

b) 底面次反射波（B1）波高未達到滿刻度，此時，缺陷次反射波（F1）波高與底而次反射波〈B1）波高之比大于或等于50%，即B,<，而F1/B1≥50%.

c) 底面第-次反射波（B1）波高低于滿刻度的50%，即B,<50%。

2、缺陷的邊界范圍或指示長度的測定方法

a) 檢出缺陷后、應(yīng)在它的周闈繼續(xù)進行檢測，以確定缺陷的范圍。

b) 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，

并使缺陷波下降到基準靈敏度條件下無錫超聲波無錫探傷儀屏滿刻度的25%或使缺陷次反射波波高與底面次反射波波高之比為50%。此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴重者為準。

c) 用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時，移動探頭使缺陷次反射波波高下降到基準靈敏度條件下無錫超聲波無錫探傷儀屏滿刻度的25%或使缺陷次反射波波高與底面次反射波波高之比為50%。此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度．探頭中心即為缺陷的邊界點。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴重者為準。

d）確定1. c )中缺陷的邊界范圍或指示長度時，移動探頭（單真探頭或雙直探頭）使底面次反射波升高到無錫超聲波無錫探傷儀屏滿刻度的50%。此時探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度、探頭中心點即為缺陷的邊界點。

e）當板厚較薄．確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時，基準靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來校準。